經(jīng)濟(jì)型掃描電鏡是從光學(xué)到電子顯微鏡轉(zhuǎn)換的理想工具。它是高分辨率成像的經(jīng)濟(jì)型解決方案，可提供成像結(jié)果。具有景深大、分辨率高，成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測(cè)樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn)。另外具有可測(cè)樣品種類豐富，幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時(shí)獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。目前，已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究，僅在地球科學(xué)方面就包括了結(jié)晶學(xué)、礦物學(xué)、礦床學(xué)、沉積學(xué)、地球化學(xué)、寶石學(xué)、微體古生物、天文地質(zhì)、油氣地質(zhì)、工程地質(zhì)和構(gòu)造地質(zhì)等。

進(jìn)口掃描電鏡是使用較為廣泛的分析工具之一，因?yàn)樗梢钥焖偬峁悠繁砻婧徒砻娴母叻直媛屎透呔吧顖D像。結(jié)合微切刀的能力，它可以提供亞納米分辨率的橫截面圖像，并縮短周轉(zhuǎn)時(shí)間。因其作用特點(diǎn)，目前已廣泛用于材料科學(xué)（金屬材料、非金屬材料、納米材料）、冶金、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體材料與器件、地質(zhì)勘探、病蟲(chóng)害的防治、災(zāi)害（火災(zāi)、失效分析）鑒定、刑事偵察、寶石鑒定、工業(yè)生產(chǎn)中的產(chǎn)品質(zhì)量鑒定及生產(chǎn)工藝控制等領(lǐng)域。

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡,SS-30臺(tái)式掃描電鏡是不款性價(jià)比高很高的適用性掃描電子顯微鏡，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛：材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)勘探等多個(gè)領(lǐng)域。